Saat noutopistetoimituksen veloituksetta*, kun tilauksesi arvo ylittää 59 €!
*Koskee yksityisasiakkaiden tilauksia, jotka toimitetaan Suomeen.
KIRJAUDU
| FRINGE PATTERN ANALYSIS FOR OPTICAL METROLOGY - THEORY, ALGORITHMS, AND APPLICATIONS Sivumäärä: 344 Kirjoittaja: Servin, Manuel; Quiroga, J. Antonio; Padilla, Moises Kustantaja: Wiley-VCH Verlag GmbH Kirjan kieli: Englanti Asu: Kovakantinen kirja Painos: - Julkaisuvuosi: 2014 | |||
| |||