SULJE VALIKKO

avaa valikko

| Booky.fi

Integrated Circuit Failure Analysis - A Guide to Preparation Techniques
199,00 €
John Wiley & Sons Inc
Sivumäärä: 190 sivua
Asu: Kovakantinen kirja
Julkaisuvuosi: 1998, 19.01.1998 (lisätietoa)
Kieli: Englanti
Funktionstests an integrierten Schaltungen sind für deren Zuverlässigkeit von herausragender Bedeutung. Erstmals werden in diesem Werk die speziellen Präparationstechniken für die Fehleranalyse beschrieben. Ausgehend von den theoretischen Grundlagen erläutert der Autor in praxisnahem Stil die verschiedenen Techniken, die das Zurückverfolgen von Ausfällen ermöglichen.

Tuotetta lisätty
ostoskoriin kpl
Siirry koriin
LISÄÄ OSTOSKORIIN
Tilaustuote | Arvioimme, että tuote lähetetään meiltä noin 16-19 arkipäivässä
Integrated Circuit Failure Analysis - A Guide to Preparation Techniqueszoom
Näytä kaikki tuotetiedot
ISBN:
9780471974017


Toimitusehdot


Asiakaspalvelu


YHTEYSTIEDOT


SEURAA MEITÄ

Booky.fi | Kotimainen kirjakauppasi netissä

Löydä seuraava lukuelämyksesi meiltä. Valikoimassamme ovat kaikki kotimaiset kirjat sekä noin 25 miljoonaa ulkomaista teosta.
Toimitamme tilaukset maailmanlaajuisesti!



Tietosuojaseloste