SULJE VALIKKO
KIRJAUDU
This book contains peer-reviewed papers presented at the 2007 International Conference on Frontiers of Characterization and Metrology. It emphasizes the frontiers of innovation in the characterization and metrology needed to advance nanoelectronics. It provides an effective portrayal of the industry’s characterization and metrology needs and how they are being addressed. It also offers a foundation for further advances in metrology and new ideas for research and development.
Toimitusehdot |
Asiakaspalvelu |
YHTEYSTIEDOT |
SEURAA MEITÄ
|
Löydä seuraava lukuelämyksesi meiltä. Valikoimassamme ovat kaikki kotimaiset kirjat sekä noin 25 miljoonaa ulkomaista teosta.
Toimitamme tilaukset maailmanlaajuisesti!
Tietosuojaseloste