KIRJAUDU
Introduction to Spectroscopic Ellipsometry of Thin Film Materials - Instrumentation, Data Analysis, and Applications
110,90 €
Wiley-VCH Verlag GmbH
Sivumäärä: 208 sivua
Asu: Pehmeäkantinen kirja
Julkaisuvuosi: 2022, 13.04.2022 (lisätietoa)
Kieli: Englanti
Sivumäärä: 208 sivua
Asu: Pehmeäkantinen kirja
Julkaisuvuosi: 2022, 13.04.2022 (lisätietoa)
Kieli: Englanti
Dieses Buch ist eine aktualisierte Einführung in die Anwendung der spektrometrischen Ellipsometrie mit ihrem praktischen Einsatz bei der Untersuchung von Grenzflächeneigenschaften, Elektronenstrukturen und Quasiteilcheneigenschaften verschiedener Klassen von Dünnschichtmaterialien.
Tilaustuote
Arvioimme, että tuote lähetetään meiltä noin 3-4 viikossa
Arvioimme, että tuote lähetetään meiltä noin 3-4 viikossa
Näytä kaikki tuotetiedot
ISBN:
9783527349517
Aihealue:
|
Toimitusehdot |
Asiakaspalvelu |
YHTEYSTIEDOT |
SEURAA MEITÄ
|
 |
Booky.fi | Kotimainen kirjakauppasi netissä
Löydä seuraava lukuelämyksesi meiltä. Valikoimassamme ovat kaikki kotimaiset kirjat sekä noin 25 miljoonaa ulkomaista teosta.
Toimitamme tilaukset maailmanlaajuisesti!
Tietosuojaseloste
