Saat noutopistetoimituksen veloituksetta*, kun tilauksesi arvo ylittää 59 €!
*Koskee yksityisasiakkaiden tilauksia, jotka toimitetaan Suomeen.
KIRJAUDU
MEMS Reliability
115,90 €
Springer
Sivumäärä: 291 sivua
Asu: Pehmeäkantinen kirja
Painos: 2011 ed.
Julkaisuvuosi: 2012, 27.12.2012 (lisätietoa)
Kieli: Englanti
Tuotesarja: MEMS Reference Shelf
Sivumäärä: 291 sivua
Asu: Pehmeäkantinen kirja
Painos: 2011 ed.
Julkaisuvuosi: 2012, 27.12.2012 (lisätietoa)
Kieli: Englanti
Tuotesarja: MEMS Reference Shelf
The successful launch of viable MEMs product hinges on MEMS reliability, the reliability and qualification for MEMs based products is not widely understood. Companies that have a deep understanding of MEMs reliability view the information as a competitive advantage and are reluctant to share it.
MEMs Reliability, focuses on the reliability and manufacturability of MEMS at a fundamental level by addressing process development and characterization, material property characterization, failure mechanisms and physics of failure (POF), design strategies for improving yield, design for reliability (DFR), packaging and testing.
MEMs Reliability, focuses on the reliability and manufacturability of MEMS at a fundamental level by addressing process development and characterization, material property characterization, failure mechanisms and physics of failure (POF), design strategies for improving yield, design for reliability (DFR), packaging and testing.
TilaustuoteTilaustuote
Tämän tuotteen tilaamme kustantajalta tai tukkurilta varastoomme. Saatavuusarvio on tuotekohtainen. Lähetämme toimitusvahvistuksen heti, kun tuote on toimitettu varastoltamme rahdinkuljettajalle.
Arvioimme, että tuote lähetetään meiltä noin 1-3 viikossa.
Tämän tuotteen tilaamme kustantajalta tai tukkurilta varastoomme. Saatavuusarvio on tuotekohtainen. Lähetämme toimitusvahvistuksen heti, kun tuote on toimitettu varastoltamme rahdinkuljettajalle.
Arvioimme, että tuote lähetetään meiltä noin 1-3 viikossa.
Näytä kaikki tuotetiedot
ISBN:
9781461427360
Aihealue: