Saat noutopistetoimituksen veloituksetta*, kun tilauksesi arvo ylittää 39 €!
*Koskee yksityisasiakkaiden tilauksia, jotka toimitetaan Suomeen.
|
|

avaa valikko

Materials Reliability in Microelectronics III: Volume 309
Kenneth P. Rodbell, William F. Filter, Harold J. Frost, Paul S. Ho
33,00 €
Cambridge University Press
Sivumäärä: 514 sivua
Asu: Pehmeäkantinen kirja
Julkaisuvuosi: 2014, 05.06.2014 (lisätietoa)
Kieli: Englanti
The MRS Symposium Proceeding series is an internationally recognised reference suitable for researchers and practitioners.

LISÄÄ OSTOSKORIIN
Tuotetta lisätty
ostoskoriin kpl
Siirry koriin
Tilaustuote

Tilaustuote

Tämän tuotteen tilaamme kustantajalta tai tukkurilta varastoomme. Saatavuusarvio on tuotekohtainen. Lähetämme toimitusvahvistuksen heti, kun tuote on toimitettu varastoltamme rahdinkuljettajalle.
Arvioimme, että tuote lähetetään meiltä noin 1-3 viikossa.
Haluan myydä tämän tuotteen
Ryhmätilaus-
laskuri
Materials Reliability in Microelectronics III: Volume 309Suurenna kuva
Näytä kaikki tuotetiedot
ISBN:
9781107409484
Aihealue:
Ulkomaiset kirjat » Technology » Material Science
Kansikuva tuotteelle