Saat noutopistetoimituksen veloituksetta*, kun tilauksesi arvo ylittää 59 €!
*Koskee yksityisasiakkaiden tilauksia, jotka toimitetaan Suomeen.
|
|

avaa valikko

Statistical Performance Analysis and Modeling Techniques for Nanometer VLSI Designs
Sheldon X. -D. Tan, Ruijing Shen, Hao Yu
155,80 €
Springer-Verlag GmbH
Asu: Kovakantinen kirja
Julkaisuvuosi: 2011, 01.09.2011 (lisätietoa)
Kieli: Englanti
Tuotteella ei tuotekuvausta.


Loppuunmyyty
Haluan myydä tämän tuotteen
Statistical Performance Analysis and Modeling Techniques for Nanometer VLSI Designs
Näytä kaikki tuotetiedot
ISBN:
9781441967350
Aihealue:
Ulkomaiset kirjat
Kansikuva tuotteelle