Saat noutopistetoimituksen veloituksetta*, kun tilauksesi arvo ylittää 59 €!
*Koskee yksityisasiakkaiden tilauksia, jotka toimitetaan Suomeen.
|
|

avaa valikko

Rajeshuni Ramesham | Booky.fi

Haullasi löytyi yhteensä 10 tuotetta
Haluatko tarkentaa hakukriteerejä?



Reliability, Packaging, Testing, and Characterization of Mems/moems VI
Hartzell, Allyson L.; Ramesham, Rajeshuni
SPIE Press
2007
Pehmeäkantinen kirja
Saatavuus: Loppuunmyyty
 Loppuunmyyty
Reliability, Packaging, Testing, and Characterization of Mems/moems VI
Tuotetta lisätty
ostoskoriin kpl
Siirry koriin
228,90 €
Reliability, Testing, and Characterization of MEMS/MOEMS
Ramesham, Rajeshuni
SPIE Press
2001
Pehmeäkantinen kirja
Saatavuus: Loppuunmyyty
 Loppuunmyyty
Reliability, Testing, and Characterization of MEMS/MOEMS
Tuotetta lisätty
ostoskoriin kpl
Siirry koriin
168,70 €
Reliability, Testing and Characterization of MEMS/MOEMS
Ramesham, Rajeshuni
SPIE
2003
Pehmeäkantinen kirja
Saatavuus: Loppuunmyyty
 Loppuunmyyty
Reliability, Testing and Characterization of MEMS/MOEMS
Tuotetta lisätty
ostoskoriin kpl
Siirry koriin
215,60 €
Reliability, Packaging, Testing, and Characterization of Moems/mems and Nanodevices XII - 4-5 February 2013, San Francisco, Cali
Ramesham, Rajeshuni; Shea, Herbert R.
SPIE Press
2013
Pehmeäkantinen kirja
Saatavuus: Tilaustuote Tuotteen saatavuus varmistetaan tilauskohtaisesti. Voit jättää tilauksen, niin tarkistamme saatavuuden tavarantoimittajilta. Jos tuotetta ei ole saatavissa, olemme sinuun yhteydessä ja perumme tilauksesi.
Reliability, Packaging, Testing, and Characterization of Moems/mems and Nanodevices XII - 4-5 February 2013, San Francisco, Cali
Tuotetta lisätty
ostoskoriin kpl
Siirry koriin
124,40 €
Reliability, Packaging, Testing, and Characterization of MEMS/MOEMS VII
Hartzell, Allyson L.; Ramesham, Rajeshuni
SPIE Press
2008
Pehmeäkantinen kirja
Saatavuus: Loppuunmyyty
 Loppuunmyyty
Reliability, Packaging, Testing, and Characterization of MEMS/MOEMS VII
Tuotetta lisätty
ostoskoriin kpl
Siirry koriin
228,90 €
Reliability, Packaging, Testing, and Characterization of MEMS/MOEMS IV
Tanner, Danelle M.; Ramesham, Rajeshuni
SPIE Press
2005
Pehmeäkantinen kirja
Saatavuus: Loppuunmyyty
 Loppuunmyyty
Reliability, Packaging, Testing, and Characterization of MEMS/MOEMS IV
Tuotetta lisätty
ostoskoriin kpl
Siirry koriin
228,90 €
Reliability, Packaging, Testing, and Characterization of MEMS/MOEMS V
Tanner, Danelle M.; Ramesham, Rajeshuni
SPIE Press
2006
Pehmeäkantinen kirja
Saatavuus: Loppuunmyyty
 Loppuunmyyty
Reliability, Packaging, Testing, and Characterization of MEMS/MOEMS V
Tuotetta lisätty
ostoskoriin kpl
Siirry koriin
228,90 €
Reliability, Testing, and Characterization of MEMS/MOEMS III
Tanner, Danelle M.; Ramesham, Rajeshuni
SPIE Press
1985
Pehmeäkantinen kirja
Saatavuus: Loppuunmyyty
 Loppuunmyyty
Reliability, Testing, and Characterization of MEMS/MOEMS III
Tuotetta lisätty
ostoskoriin kpl
Siirry koriin
228,90 €
Reliability, Packaging, Testing, and Characterization of MEMS/MOEMS and Nanodevices VIII
Kullberg, Richard C.; Ramesham, Rajeshuni
SPIE Press
2009
Pehmeäkantinen kirja
Saatavuus: Tilaustuote Tuotteen saatavuus varmistetaan tilauskohtaisesti. Voit jättää tilauksen, niin tarkistamme saatavuuden tavarantoimittajilta. Jos tuotetta ei ole saatavissa, olemme sinuun yhteydessä ja perumme tilauksesi.
Reliability, Packaging, Testing, and Characterization of MEMS/MOEMS and Nanodevices VIII
Tuotetta lisätty
ostoskoriin kpl
Siirry koriin
124,40 €
Reliability, Packaging, Testing, and Characterization of MOEMS/MEMS, Nanodevices, and Nanomaterials XIII
Shea, Herbert R.; Ramesham, Rajeshuni
SPIE Press
2014
Pehmeäkantinen kirja
Saatavuus: Tilaustuote Tuotteen saatavuus varmistetaan tilauskohtaisesti. Voit jättää tilauksen, niin tarkistamme saatavuuden tavarantoimittajilta. Jos tuotetta ei ole saatavissa, olemme sinuun yhteydessä ja perumme tilauksesi.
Reliability, Packaging, Testing, and Characterization of MOEMS/MEMS, Nanodevices, and Nanomaterials XIII
Tuotetta lisätty
ostoskoriin kpl
Siirry koriin
129,10 €

Näytä lisää...