Saat noutopistetoimituksen veloituksetta*, kun tilauksesi arvo ylittää 39 €!
*Koskee yksityisasiakkaiden tilauksia, jotka toimitetaan Suomeen.
|
|

avaa valikko

Reliability, Packaging, Testing, and Characterization of MEMS/MOEMS and Nanodevices VIII
Richard C. Kullberg, Rajeshuni Ramesham
122,10 €
SPIE Press
Asu: Pehmeäkantinen kirja
Julkaisuvuosi: 2009, 01.01.2009 (lisätietoa(avautuu ponnahdusikkunassa))
Some previous conferences entitled: Reliability, packaging, testing, and characterization of MEMS/MOEMS.

LISÄÄ OSTOSKORIIN
Tuotetta lisätty
ostoskoriin kpl
Siirry koriin
Tuotteella on huono saatavuus ja tuote toimitetaan hankintapalvelumme kautta. Tilaamalla tämän tuotteen hyväksyt palvelun aloittamisen.
Seuraa saatavuutta(avautuu ponnahdusikkunassa).
Omakauppa (avautuu ponnahdusikkunassa)
Haluan myydä tämän tuotteen
Ryhmätilaus-
laskuri
Reliability, Packaging, Testing, and Characterization of MEMS/MOEMS and Nanodevices VIII
Näytä kaikki tuotetiedot
ISBN:
9780819474520
Aihealue:
Ulkomaiset kirjat