SULJE VALIKKO

avaa valikko

CMOS SRAM Circuit Design and Parametric Test in Nano-Scaled Technologies - Process-Aware SRAM Design and Test
143,50 €
Springer-Verlag New York Inc.
Sivumäärä: 194 sivua
Asu: Kovakantinen kirja
Painos: 2008 ed.
Julkaisuvuosi: 2008, 21.06.2008 (lisätietoa)
Kieli: Englanti
Tuotesarja: Frontiers in Electronic Testing 40
CMOS SRAM Circuit Design and Parametric Test in Nano-Scaled Technologies covers a broad range of topics related to SRAM design and test. From SRAM operation basics through cell electrical and physical design to process-aware and economical approach to SRAM testing. The emphasis of the book is on challenges and solutions of stability testing as well as on development of understanding of the link between the process technology and SRAM circuit design in modern nano-scaled technologies.

Tuotetta lisätty
ostoskoriin kpl
Siirry koriin
LISÄÄ OSTOSKORIIN
Tilaustuote
Arvioimme, että tuote lähetetään meiltä noin 3-4 viikossa
CMOS SRAM Circuit Design and Parametric Test in Nano-Scaled Technologies - Process-Aware SRAM Design and Testzoom
Näytä kaikki tuotetiedot
ISBN:
9781402083624


Toimitusehdot


Asiakaspalvelu


YHTEYSTIEDOT


SEURAA MEITÄ
Avainlippu

Booky.fi | Kotimainen kirjakauppasi netissä

Löydä seuraava lukuelämyksesi meiltä. Valikoimassamme ovat kaikki kotimaiset kirjat sekä noin 25 miljoonaa ulkomaista teosta.
Toimitamme tilaukset maailmanlaajuisesti!

Tietosuojaseloste