Saat noutopistetoimituksen veloituksetta*, kun tilauksesi arvo ylittää 59 €!
*Koskee yksityisasiakkaiden tilauksia, jotka toimitetaan Suomeen.
|
|

avaa valikko

Scanning Probe Microscopy - Atomic Scale Engineering by Forces and Currents
137,30 €
Springer-Verlag New York Inc.
Sivumäärä: 282 sivua
Asu: Pehmeäkantinen kirja
Painos: Softcover reprint of
Julkaisuvuosi: 2010, 23.11.2010 (lisätietoa)
Kieli: Englanti
Tuotesarja: NanoScience and Technology
Scanning Probe Microscopy is a comprehensive source of information for researchers, teachers, and graduate students about the rapidly expanding field of scanning probe theory. Writing in a tutorial style, the authors explain from scratch the theory behind today’s simulation techniques and give examples of theoretical concepts through state-of-the-art simulations, including the means to compare these results with experimental data. The book provides the first comprehensive framework for electron transport theory with its various degrees of approximations, thus allowing extensive insight into the physics of scanning probes. Experimentalists will appreciate how the materials properties influence the instrument's operation, and theorists will understand how simulations can be directly compared to experimental data.


 


Key Features




Serves as a comprehensive source of information for researchers, teachers, and students about the theory underlying the rapidly expanding field of scanning probe microscopy
Provides a framework for linking scanning probe theory and simulations with experimental data
Written in the style of a textbook with step-by-step examples of how theoretical concepts are used to generate state-of-the-art simulations

LISÄÄ OSTOSKORIIN
Tuotetta lisätty
ostoskoriin kpl
Siirry koriin
Tilaustuote

Tilaustuote

Tämän tuotteen tilaamme kustantajalta tai tukkurilta varastoomme. Saatavuusarvio on tuotekohtainen. Lähetämme toimitusvahvistuksen heti, kun tuote on toimitettu varastoltamme rahdinkuljettajalle.

Arvioimme, että tuote lähetetään meiltä noin 1-3 viikossa.
Scanning Probe Microscopy - Atomic Scale Engineering by Forces and CurrentsSuurenna kuva
Näytä kaikki tuotetiedot
ISBN:
9781441923066
Kansikuva tuotteelle