Name: Reliability, Packaging, Testing, and Characterization of Mems/Moems and Nanodevices X - 24-25 January 2011, San Francisco, Calif
SKU: 9780819484659
Price: 126.10 EUR
Availability: OutOfStock

Reliability, Packaging, Testing, and Characterization of Mems/Moems and Nanodevices X - 24-25 January 2011, San Francisco, Calif

Sonia Garcia-Blanco

126,10 €

SPIE Press
Sivumäärä: 256 sivua
Asu: Mikrofilmi
Painos: New ed.
Julkaisuvuosi: 2011, 01.01.2011 (lisätietoa)

Tuotteella ei tuotekuvausta.

LISÄÄ OSTOSKORIIN

Tuotteella on huono saatavuus ja tuote toimitetaan hankintapalvelumme kautta. Tilaamalla tämän tuotteen hyväksyt palvelun aloittamisen.
Seuraa saatavuutta.

Haluan myydä tämän tuotteen

Ryhmätilaus-
laskuri

Reliability, Packaging, Testing, and Characterization of Mems/Moems and Nanodevices X - 24-25 January 2011, San Francisco, Calif

Näytä kaikki tuotetiedot

ISBN:

9780819484659

Aihealue:

Ulkomaiset kirjat