Saat noutopistetoimituksen veloituksetta*, kun tilauksesi arvo ylittää 59 €!
*Koskee yksityisasiakkaiden tilauksia, jotka toimitetaan Suomeen.
|
|

avaa valikko

Nanometer-scale Defect Detection Using Polarized Light
156,50 €
ISTE Ltd.
Sivumäärä: 320 sivua
Asu: Muu digitaalinen tallenne
Julkaisuvuosi: 2016, 16.09.2016 (lisätietoa)
Kieli: Englanti
Tuotteella ei tuotekuvausta.

LISÄÄ OSTOSKORIIN
Tuotetta lisätty
ostoskoriin kpl
Siirry koriin
Painos loppuTuote on tilapäisesti loppunut ja sen saatavuus on epävarma.
Tuote on tilapäisesti loppunut ja sen saatavuus on epävarma.
Seuraa saatavuutta.
Nanometer-scale Defect Detection Using Polarized Light
Näytä kaikki tuotetiedot
ISBN:
9781119329633
Kansikuva tuotteelle