Saat noutopistetoimituksen veloituksetta*, kun tilauksesi arvo ylittää 39 €!
*Koskee yksityisasiakkaiden tilauksia, jotka toimitetaan Suomeen.
KIRJAUDU
X-Ray Scattering Techniques for Epitaxial Oxide Thin Films
86,00 €
Springer
Sivumäärä: 186 sivua
Asu: Kovakantinen kirja
Julkaisuvuosi: 2025, 12.08.2025 (lisätietoa)
Kieli: Englanti
Sivumäärä: 186 sivua
Asu: Kovakantinen kirja
Julkaisuvuosi: 2025, 12.08.2025 (lisätietoa)
Kieli: Englanti
The first chapter considers laboratory-based X-ray diffraction (XRD) methods: the indispensable X-ray characterization methods used for phase analysis, epitaxial relationship determination, advanced analytical and data fitting techniques, and grazing incidence diffraction.
Tilaustuote
Arvioimme, että tuote lähetetään meiltä noin 1-3 viikossa.
Tilaustuote
Tämän tuotteen tilaamme kustantajalta tai tukkurilta varastoomme. Saatavuusarvio on tuotekohtainen. Lähetämme toimitusvahvistuksen heti, kun tuote on toimitettu varastoltamme rahdinkuljettajalle.Arvioimme, että tuote lähetetään meiltä noin 1-3 viikossa.
Näytä kaikki tuotetiedot
ISBN:
9789819659449
Aihealue: