Saat noutopistetoimituksen veloituksetta*, kun tilauksesi arvo ylittää 39 €!
*Koskee yksityisasiakkaiden tilauksia, jotka toimitetaan Suomeen.
KIRJAUDU
Infrared Ellipsometry on Semiconductor Layer Structures : Phonons, Plasmons, and Polaritons
204,80 €
Springer
Sivumäärä: 196 sivua
Asu: Kovakantinen kirja
Painos: 2004 ed.
Julkaisuvuosi: 2004, 26.11.2004 (lisätietoa)
Kieli: Englanti
Tuotesarja: Springer Tracts in Modern Physics 209
Sivumäärä: 196 sivua
Asu: Kovakantinen kirja
Painos: 2004 ed.
Julkaisuvuosi: 2004, 26.11.2004 (lisätietoa)
Kieli: Englanti
Tuotesarja: Springer Tracts in Modern Physics 209
The study of semiconductor-layer structures using infrared ellipsometry is a rapidly growing field within optical spectroscopy.
Tilaustuote
Arvioimme, että tuote lähetetään meiltä noin 4-5 viikossa
Tilaustuote
Tämän tuotteen tilaamme kustantajalta tai tukkurilta varastoomme. Saatavuusarvio on tuotekohtainen. Lähetämme toimitusvahvistuksen heti, kun tuote on toimitettu varastoltamme rahdinkuljettajalle.Arvioimme, että tuote lähetetään meiltä noin 4-5 viikossa
Näytä kaikki tuotetiedot
ISBN:
9783540232490
Aihealue: