Saat noutopistetoimituksen veloituksetta*, kun tilauksesi arvo ylittää 59 €!
*Koskee yksityisasiakkaiden tilauksia, jotka toimitetaan Suomeen.
KIRJAUDU
Atomic Force Microscopy Based Nanorobotics : Modelling, Simulation, Setup Building and Experiments
137,30 €
Springer
Sivumäärä: 344 sivua
Asu: Kovakantinen kirja
Painos: 2011
Julkaisuvuosi: 2011, 28.09.2011 (lisätietoa)
Kieli: Englanti
Tuotesarja: Springer Tracts in Advanced Robotics 71
Sivumäärä: 344 sivua
Asu: Kovakantinen kirja
Painos: 2011
Julkaisuvuosi: 2011, 28.09.2011 (lisätietoa)
Kieli: Englanti
Tuotesarja: Springer Tracts in Advanced Robotics 71
The atomic force microscope (AFM) has been successfully used to perform nanorobotic manipulation operations on nanoscale entities such as particles, nanotubes, nanowires, nanocrystals, and DNA since 1990s.
Tilaustuote
Arvioimme, että tuote lähetetään meiltä noin 1-3 viikossa.
Tilaustuote
Tämän tuotteen tilaamme kustantajalta tai tukkurilta varastoomme. Saatavuusarvio on tuotekohtainen. Lähetämme toimitusvahvistuksen heti, kun tuote on toimitettu varastoltamme rahdinkuljettajalle.Arvioimme, että tuote lähetetään meiltä noin 1-3 viikossa.
Näytä kaikki tuotetiedot
ISBN:
9783642203282
Aihealue: