Ryhmätilauslaskuri

TESTING FOR SMALL-DELAY DEFECTS IN NANOSCALE CMOS INTEGRATED CIRCUITS
Sivumäärä: 259
Kirjoittaja: Goel, Sandeep K.; Chakrabarty, Krishnendu
Kustantaja: Taylor & Francis Inc
Kirjan kieli: Englanti
Asu: Kovakantinen kirja
Painos: 1
Julkaisuvuosi: 2013

Arvioitu toimitusaika: Noin 2-3 viikossa ryhmätilauksen sulkeutumisesta
ISBN-13: 9781439829417, ISBN-10: 1439829411, Normaali hinta: 270.90 €

Ryhmätilauksen tiedot

Anna ryhmätilauksen tilaustapa ja ryhmätilauksen sisältämien kirjojen lukumäärä saadaksesi tarjouksen ryhmätilauksesta. Lue ennen tilaamista ryhmätilauksiin liittyvät ohjeet. Ryhmätilauksen kokonaishinta on tilaustavasta riippumatta aina sama.

Huom! Ryhmätilauskirjoilla ei ole palautusoikeutta.

Tilaustapa:	lisätietoa tilaustavoista
Kappalemäärä:	Minimimäärä 5 kpl.