Saat noutopistetoimituksen veloituksetta*, kun tilauksesi arvo ylittää 59 €!
*Koskee yksityisasiakkaiden tilauksia, jotka toimitetaan Suomeen.
KIRJAUDU
| ELECTRON BEAM TESTING TECHNOLOGY Sivumäärä: 462 Kirjoittaja: Thong, John T.L. Kustantaja: Springer-Verlag New York Inc. Kirjan kieli: Englanti Asu: Pehmeäkantinen kirja Painos: Softcover reprint of Julkaisuvuosi: 2013 | |||
| |||