Saat noutopistetoimituksen veloituksetta*, kun tilauksesi arvo ylittää 59 €!
*Koskee yksityisasiakkaiden tilauksia, jotka toimitetaan Suomeen.
KIRJAUDU
| X-RAY MULTIPLE-WAVE DIFFRACTION - THEORY AND APPLICATION Sivumäärä: 436 Kirjoittaja: Chang, Shih-Lin Kustantaja: Springer-Verlag Berlin and Heidelberg GmbH & Co. KG Kirjan kieli: Englanti Asu: Kovakantinen kirja Painos: 2004 ed. Julkaisuvuosi: 2004 | |||
| |||