Saat noutopistetoimituksen veloituksetta*, kun tilauksesi arvo ylittää 59 €!
*Koskee yksityisasiakkaiden tilauksia, jotka toimitetaan Suomeen.
|
|

avaa valikko

Zu-Han Gu | Booky.fi

Haullasi löytyi yhteensä 6 tuotetta
Haluatko tarkentaa hakukriteerejä?



Gu, Zu-Han; Hanssen, Leonard M.
SPIE
2008
Pehmeäkantinen kirja
Saatavuus: Hankintapalvelu Tuotteella on huono saatavuus ja tuote toimitetaan hankintapalvelumme kautta. Tilaamalla tämän tuotteen hyväksyt palvelun aloittamisen.
Reflection, Scattering, and Diffraction from Surfaces
Tuotetta lisätty
ostoskoriin kpl
Siirry koriin
215,60 €
Gu, Zu-Han; Maradudin, Alexei A.
SPIE Press
2001
Pehmeäkantinen kirja
Saatavuus: Hankintapalvelu Tuotteella on huono saatavuus ja tuote toimitetaan hankintapalvelumme kautta. Tilaamalla tämän tuotteen hyväksyt palvelun aloittamisen.
Surface Scattering and Diffraction for Advanced Metrology
Tuotetta lisätty
ostoskoriin kpl
Siirry koriin
148,10 €
Gu, Zu-Han; Maradudin, Alexei A.
SPIE Press
2002
Pehmeäkantinen kirja
Saatavuus: Hankintapalvelu Tuotteella on huono saatavuus ja tuote toimitetaan hankintapalvelumme kautta. Tilaamalla tämän tuotteen hyväksyt palvelun aloittamisen.
Surface Scattering and Diffraction for Advanced Metrology II
Tuotetta lisätty
ostoskoriin kpl
Siirry koriin
148,10 €
Gu, Zu-Han
SPIE Press
2010
Mikrofilmi
Saatavuus: Hankintapalvelu Tuotteella on huono saatavuus ja tuote toimitetaan hankintapalvelumme kautta. Tilaamalla tämän tuotteen hyväksyt palvelun aloittamisen.
Reflection, Scattering, and Diffraction from Surfaces II - 2-4 August 2010, San Diego, California, United States
Tuotetta lisätty
ostoskoriin kpl
Siirry koriin
179,90 €
Duparre, Angela; Singh, Bhanwar; Gu, Zu-Han
SPIE Press
2007
Pehmeäkantinen kirja
Saatavuus: Hankintapalvelu Tuotteella on huono saatavuus ja tuote toimitetaan hankintapalvelumme kautta. Tilaamalla tämän tuotteen hyväksyt palvelun aloittamisen.
Advanced Characterization Techniques for Optics, Semiconductors, and Nanotechnologies III
Tuotetta lisätty
ostoskoriin kpl
Siirry koriin
225,40 €
Duparre, Angela; Singh, Bhanwar; Gu, Zu-Han
SPIE Press
2005
Pehmeäkantinen kirja
Saatavuus: Hankintapalvelu Tuotteella on huono saatavuus ja tuote toimitetaan hankintapalvelumme kautta. Tilaamalla tämän tuotteen hyväksyt palvelun aloittamisen.
Advanced Characterization Techniques for Optics, Semiconductors, and Nanotechnologies II
Tuotetta lisätty
ostoskoriin kpl
Siirry koriin
225,40 €