Saat noutopistetoimituksen veloituksetta*, kun tilauksesi arvo ylittää 59 €!
*Koskee yksityisasiakkaiden tilauksia, jotka toimitetaan Suomeen.
|
|

avaa valikko

Surface Scattering and Diffraction for Advanced Metrology II
148,60 €
SPIE Press
Sivumäärä: 186 sivua
Asu: Pehmeäkantinen kirja
Julkaisuvuosi: 2002, 30.09.2002 (lisätietoa)
Tuotteella ei tuotekuvausta.

LISÄÄ OSTOSKORIIN
Tuotetta lisätty
ostoskoriin kpl
Siirry koriin
Hankintapalvelu
Tuotteella on huono saatavuus ja tuote toimitetaan hankintapalvelumme kautta. Tilaamalla tämän tuotteen hyväksyt palvelun aloittamisen.
Seuraa saatavuutta.
Surface Scattering and Diffraction for Advanced Metrology II
Näytä kaikki tuotetiedot
ISBN:
9780819445476
Kansikuva tuotteelle