Saat noutopistetoimituksen veloituksetta*, kun tilauksesi arvo ylittää 39 €!
*Koskee yksityisasiakkaiden tilauksia, jotka toimitetaan Suomeen.
|
|

avaa valikko

Resonant X-Ray Scattering in Correlated Systems
131,40 €
Springer-Verlag Berlin and Heidelberg GmbH & Co. KG
Sivumäärä: 241 sivua
Asu: Kovakantinen kirja
Painos: 1st ed. 2017
Julkaisuvuosi: 2017, 05.01.2017 (lisätietoa(avautuu ponnahdusikkunassa))
Kieli: Englanti
Tuotesarja: Springer Tracts in Modern Physics 269
The research and its outcomes presented here is devoted to the use of x-ray scattering to study correlated electron systems and magnetism. Different x-ray based methods are provided to analyze three dimensional electron systems and the structure of transition-metal oxides. Finally the observation of multipole orderings with x-ray diffraction is shown.

LISÄÄ OSTOSKORIIN
Tuotetta lisätty
ostoskoriin kpl
Siirry koriin
Tilaustuote(avautuu ponnahdusikkunassa)
Arvioimme, että tuote lähetetään meiltä noin 4-5 viikossa | 🎄 Tämä tuote ehtii jouluksi, kun teet tilauksen viimeistään 30.11.2025
Resonant X-Ray Scattering in Correlated SystemsSuurenna kuva
Näytä kaikki tuotetiedot
ISBN:
9783662532256