Saat noutopistetoimituksen veloituksetta*, kun tilauksesi arvo ylittää 59 €!
*Koskee yksityisasiakkaiden tilauksia, jotka toimitetaan Suomeen.
KIRJAUDU
Test and Diagnosis for Small-Delay Defects
100,90 €
Springer-Verlag New York Inc.
Sivumäärä: 212 sivua
Asu: Kovakantinen kirja
Painos: 2012 ed.
Julkaisuvuosi: 2011, 27.09.2011 (lisätietoa)
Kieli: Englanti
Sivumäärä: 212 sivua
Asu: Kovakantinen kirja
Painos: 2012 ed.
Julkaisuvuosi: 2011, 27.09.2011 (lisätietoa)
Kieli: Englanti
This book will introduce new techniques for detecting and diagnosing small-delay defects in integrated circuits.
Tilaustuote
Arvioimme, että tuote lähetetään meiltä noin 4-5 viikossa
Tilaustuote
Tämän tuotteen tilaamme kustantajalta tai tukkurilta varastoomme. Saatavuusarvio on tuotekohtainen. Lähetämme toimitusvahvistuksen heti, kun tuote on toimitettu varastoltamme rahdinkuljettajalle.Arvioimme, että tuote lähetetään meiltä noin 4-5 viikossa
Näytä kaikki tuotetiedot
ISBN:
9781441982964
Aihealue: