Scanning Tunneling Microscopy II, like its predecessor,presents detailed and comprehensive accounts of the basicprinciples and broad range of applications of STM andrelated scanning probe techniques.
Contributions by: W. Baumeister, P. Grütter, R. Guckenberger, Hans-Joachim Güntherodt, T. Hartmann, H. Heinzelmann, H.J. Mamin, E. Meyer, D.W. Pohl, D. Rugar, H. Siegenthaler, U. Staufer, H.K. Wickramasinghe, W. Wiegräbe, Roland Wiesendanger
Tilaustuote(avautuu ponnahdusikkunassa) Arvioimme, että tuote lähetetään meiltä noin 1-3 viikossa. | 🎄 Tämä tuote ehtii jouluksi, kun teet tilauksen viimeistään27.11.2025