Saat noutopistetoimituksen veloituksetta*, kun tilauksesi arvo ylittää 59 €!
*Koskee yksityisasiakkaiden tilauksia, jotka toimitetaan Suomeen.
KIRJAUDU
| RELIABILITY TECHNOLOGY FOR INTEGRATED CIRCUIT PACKAGING Sivumäärä: 510 Kirjoittaja: Zhou, Bin; En, Yunfei; Chen, Si Kustantaja: Springer Kirjan kieli: Englanti Asu: Kovakantinen kirja Painos: - Julkaisuvuosi: 2026 | |||
| |||