En la actualidad el sector industrial requiere de t?cnicas que permitan el an?lisis de sus productos sin contacto, o en la l?nea de producci?n, en muchos de los casos la calidad de objetos transparentes como acr?licos, vidrios, lentes, espejos entre otros, debe ser medida con una precisi?n del orden de micr?metros es decir, que no tengan desviaciones o errores mayores de la longitud de onda; en otros sectores algunas muestras org?nicas microsc?picas tambi?n deben ser cuantificadas, a?n sin contar con microscopios de potencia, por lo que un problema de inter?s es medir las deformaciones de estas superficies u objetos respecto a una referencia o forma ideal. En este libro se presenta un sistema interferom?trico para analizar estructuras transparentes y que son de inter?s para el sector industrial; para este fin se implement? una t?cnica de corrimiento de fase por polarizaci?n para obtener la informaci?n de las deformaciones ocasionadas por el objeto transparente.Se presentan los resultados obtenidos con microestructuras transparentes. Esta investigaci?n forma parte de la Iniciativa de Creaci?n de la Primera Ingenier?a en ?ptica y Fot?nica de Iberoam?rica.