SULJE VALIKKO

avaa valikko

Acoustic Scanning Probe Microscopy
101,40 €
Springer-Verlag Berlin and Heidelberg GmbH & Co. KG
Sivumäärä: 494 sivua
Asu: Pehmeäkantinen kirja
Painos: 2013 ed.
Julkaisuvuosi: 2014, 09.11.2014 (lisätietoa)
Kieli: Englanti
Tuotesarja: NanoScience and Technology
The combination of atomic force microscopy with ultrasonic methods allows the nearfield detection of acoustic signals. The nondestructive characterization and nanoscale quantitative mapping of surface adhesion and stiffness or friction is possible. The aim of this book is to provide a comprehensive review of different scanning probe acoustic techniques, including AFAM, UAFM, SNFUH, UFM, SMM and torsional tapping modes. Basic theoretical explanations are given to understand not only the probe dynamics but also the dynamics of tip surface contacts. Calibration and enhancement are discussed to better define the performance of the techniques, which are also compared with other classical techniques such as nanoindentation or surface acoustic wave. Different application fields are described, including biological surfaces, polymers and thin films.

Tuotetta lisätty
ostoskoriin kpl
Siirry koriin
LISÄÄ OSTOSKORIIN
Tilaustuote
Arvioimme, että tuote lähetetään meiltä noin 3-4 viikossa
Acoustic Scanning Probe Microscopy
Näytä kaikki tuotetiedot
ISBN:
9783642430794


Toimitusehdot


Asiakaspalvelu


YHTEYSTIEDOT


SEURAA MEITÄ
Avainlippu

Booky.fi | Kotimainen kirjakauppasi netissä

Löydä seuraava lukuelämyksesi meiltä. Valikoimassamme ovat kaikki kotimaiset kirjat sekä noin 25 miljoonaa ulkomaista teosta.
Toimitamme tilaukset maailmanlaajuisesti!

Tietosuojaseloste

Ladataan sisältöä...