El estudio que se presenta en este libro est? basado en t?cnicas interferometricas de corrimiento de fase para el c?lculo de la fase ?ptica en objetos transparentes, convencionalmente el corrimiento de fase por etapas en interferometria se realiza usando elementos mec?nicos u optoelectronicos anclados al sistema para generar corrimientos por etapas y con ello poder calcular la fase ?ptica; considerando ello se han analizado las ventajas de usar un interfer?metro de Michelson acoplado a un sistema 4-f con rejilla de fase y modulado por polarizaci?n para estudio de objetos de fase delgada est?ticos y din?micos, esto ?ltimo se logra obteniendo los corrimientos de fase simult?neos para procesar la fase ?ptica, en una sola captura de la c?mara. Con el sistema desarrollado se pueden obtener 9 r?plicas con intensidades comparables en una sola toma de la c?mara, lo que permite extraer fase de distribuciones de fase est?ticas y variables en el tiempo. Como este sistema se basa en modulaci?n de polarizaci?n, est? limitado a muestras no birrefringentes o que no cambien el estado de polarizaci?n del sistema. Proyecto CONACYT A1-S-20925.