El estudio que se presenta esta basado en t?cnicas interferometricas de corrimiento de fase, analizando las ventajas de usar un interfer?metro de doble ventana con rejilla de fase y modulaci?n en polarizaci?n para estudio de objetos de fase delgada, que est?n est?ticos y en movimiento, esto ?ltimo se logra obteniendo los corrimientos de fase necesarios en una sola toma. En primera instancia se analizan las caracter?sticas de difracci?n de las rejillas de fase y los efectos que generan en los patrones de interferencia en un interfer?metro de doble ventana. Los corrimientos de fase necesarios se generan operando polarizadores lineales sobre cada patr?n de interferencia generado en el plano imagen del sistema.Cabe se?alar que se hicieron los an?lisis necesarios para poder usar placas retardadoras no dise?adas para operar a la longitud de onda del laser usado. La adici?n de la rejilla de fase y de usar luz polarizada circularmente, nos permiti? dise?ar un sistema din?mico y flexible de corrimiento de fase y que adem?s es un sistema estable mec?nicamente.